Boundary Scan Days® 2010

Theodor Batzel

Im Rahmen der Boundary Scan Days ® 2010  vom 4.5. bis 5.5.2010
bei der Firma Göpel electronic in Jena, wurde von mir der Vortrag
„Migration von CASCON-Testvektoren in In-Circuit Tester“ gehalten, den Sie sich hier herunterladen können.

Zum Einstieg und zur Evaluierung können Sie sich den Translator, der die CASCON CEV-Testvektoren für den JTAG-Bus in das entsprechende ICT Nativ-Format übersetzt, herunterladen und auf dem ICT-Testsystem testen. Für die verschiedenen Tester enthält der ZIP-File das entsprechende CASCON-Archiv für das GÖPEL electronic EZSCAN_V2 Board.